Título STAN: Microscopía de fuerza atómica

Prestación y detalle: Microscopía de barrido por sondas, fuerza atómica (AFM), se cuenta con la posibilidad de aplicar campo magnético. Caracterización topográfica de superficies. Medidas de propiedades topográficas, eléctricas y magnéticas de superficies

Responsable:  Marcos Meyer

Equipo: Microscopio de Fuerza Atómica, AFM Nt-MDT

Nota: este equipo está inscripto en el Sistema Nacional de Microscopía (AFM)