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Título del STAN: Difractometría de polvos de Rayos X por reflexión
Prestación y detalle: Difractómetro automático para el estudio de muestras policristalinas, geometría theta -2theta, con desacople theta -2theta y dispositivos de variación de temperatura.
Se obtienen difractogramas de polvos cristalinos a temperatura ambiente y en el rango de temperaturas [120-400] K, desde 1 a 120º por pasos (0.02°) o de barrido continuo.
Equipos:
Difractómetro Philips PW1710 (año de adquisición 1989)
Análisis de muestras sólidas
– Identificación de fases
– Análisis cuantitativo y cualitativo de fases
– Análisis estructural en función de la temperatura (100 – 300 K)
– Análisis microestructural: micro-tensiones y tamaño de partícula
Difractómetro Panalytical XPERT PRO (año de adquisición 2001) – Fuera de funcionamiento
Análisis de muestras sólidas, líquidas, geles y películas. Su elevada intensidad de haz permite recolectar datos de mayor calidad, mejorando la resolución y la sensibilidad de los análisis.
– Identificación de fases
– Análisis cuantitativo y cualitativo de fases
– Análisis microestructural: micro-tensiones y tamaño de partícula
– Incidencia rasante (Estudio de películas delgadas y superficies)
– Reflectometría de rayos X (Densidad y espesor de la película. Rugosidades de la superficie y de la interfaz)
Responsables: Gustavo Alberto Echeverría – Verónica Ferraresi Curotto
Nota: Los equipos están inscriptos en el Sistema Nacional de Rayos X