Correo electrónico de contacto: mfa@iflp.unlp.edu.ar
Título STAN: Microscopía de fuerza atómica
Prestación y detalle: Microscopía de barrido por sondas, fuerza atómica (AFM), se cuenta con la posibilidad de aplicar campo magnético. Caracterización topográfica de superficies. Medidas de propiedades topográficas, eléctricas y magnéticas de superficies
Responsable: Marcos Meyer
Equipo: Microscopio de Fuerza Atómica, AFM Nt-MDT
Nota: este equipo está inscripto en el Sistema Nacional de Microscopía (AFM)